|
消费电子透射 有机发光二极管(Organic Light-emitting Diode,简称OLED)又称为有机发光半导体,具有自发光、广视角、几乎无穷高的对比度、较低能耗、极高反应速度等显著的优点。 # E$ \* W* M. i- r- ]2 |! V
应用背景
! }. H2 Z, Q6 d% z+ I3 z3 O OLED通常由多层功能材料成膜镀在基底上所构成,这些功能膜层包括阴阳电极,以及两极间的导电和光发射有机材料。目前,铟锡氧化物(简称ITO)有机膜层在OLED中得到较多的应用,该类氧化物晶格结构中含有氧原子的缺陷,为自由电子的运动和传输提供了空间,在两电极的作用下,自由电子发生定向运动,从而实现了ITO薄膜的导电特性;除能导电外,ITO薄膜还具有较高的透光性能,这是由于氧化物中原子键存在间隙,自由电子的密度不高,从而光线可以穿透ITO薄膜的结果。因此, OLED的光电性能与ITO薄膜的透过率密切相关,一般要求可见光区域的透过率高于80%。另一方面,薄膜的厚度势必会对光在其中的透过率产生影响,当厚度大于70nm时,透过率将减小。因而在OLED的生产和研发过程中,ITO导电膜的透过率以及厚度是需要被准确检测和表征的。 0 m0 p: y, _9 l4 k$ k( c ]
- p* d: c/ F/ ? 图1. 左:OLED结构;右:OLED应用于显示屏
$ Q; h8 J, N" K; O& h 应用测量原理介绍 3 d6 u, R" H2 e' g( f( R2 b
ITO薄膜的测量应用包括其在可见光波段的透过率以及薄膜的厚度。测量原理分别介绍如下:
, O7 D0 Q' W6 ~9 ]# X1 l. F. U 透过率:透过是光线在物质中不同于反射和吸收的一种行为方式,透过率为穿过物质的光强相对于原始光强的百分比。
! i, T! g; M2 X2 Q3 u/ E: l 薄膜厚度:薄膜厚度的测量是基于光波的干涉现象,具体可表述为光束照射在薄膜表面,由于入射介质、薄膜材料和基底材料具有不同的折射率值和消光系数值,使得光束在透明/半透明薄膜的上下表面发生反射,反射光波相互干涉,从而形成干涉光,这些干涉光在不同相位处的强度将随着薄膜的厚度发生变化。通过对干涉光的检测,结合适当的光学模型即可计算得到薄膜的厚度。 . Y7 w, _# O+ f7 @/ P
微型光纤光谱仪优势 # w2 p' k4 _3 w/ m$ p) ]
微型光纤光谱仪在ITO薄膜检测中,具有以下显著的优势: 体积小巧,适合原位在线监测易于操作、控制低成本快速测量全谱海洋光学推荐应用配置
8 L5 f% I# {# T+ A" D9 J 1. ITO薄膜透过率检测联系我们 | 海洋光学YoukuBilibiliWeChat的微型光纤光谱仪,在配置采样平台STAGE-RTL以及光源后即可应用于ITO薄膜的透过率检测。具体配置如下: 4 G5 {5 d& k! _9 `" o; z
& t7 d4 E2 h$ X4 \& ? ! m3 x$ g/ p5 o9 ?/ s, r# I
( H+ i( d; o3 F ]
紫外/可见光波段 - F% W& \- N; G6 Q
近红外波段
3 h) Z1 T% e; ?! A8 } 光谱仪 % Z& v! G, [' D6 K& H
USB系列, HR系列, QE65000 o0 }4 `; X5 K/ |, ` _8 J! O
NIRQUEST
" l. B$ q9 _5 V. o5 n4 K 软件
" K* q5 l; u/ e8 N Oceanview 1.6.3 9 T$ c7 M$ S& f& `. N. o3 q
光源
6 _2 w' j' k9 |; g+ @0 P: W6 ? DH-2000, HL-2000, DT-MINI-2-GS , {; a- N' P0 o+ m, U
光纤
% G4 H' d9 J4 G7 C UV-VIS XSR Solarization-resistant, UV/SR-VIS High OH content, UV-VIS High OH content, SMA905 接头
: h2 X2 p) _* ?6 r) w VIS-NIR Low OH content, SMA 905接头 7 [6 |% N3 P. I3 j
附件 % ~2 F, w# L, [8 l
74系列准直镜,采样平台Stage-RTL-T h: F6 E; d. n3 v" |
: n6 }; Q# H+ v: k9 }& A i- X* H9 |% |2 f# Q
1 x+ h% c) W. d7 w
5 M/ a9 C. j0 e1 T; n4 X3 ?/ l+ E( D 图2. 薄膜透过率测量系统配置 2 W: j8 x' |/ Z n) g
4 C3 c2 e& A! e8 U7 i: f
图3. 不同汽车玻璃在UV-VIS-NIR及NIR波段的透过率 : O; j( _: _- r+ F
2. ITO薄膜膜厚检测
7 B% `0 o4 d) O 海洋光学NanoCalc膜厚仪检测系统,配置有采样平台、UV-VIS反射探头,可应用于ITO薄膜的膜厚检测。具体配置如下:
^3 B! | `- K
( o1 Y3 G- o9 ] i# B8 y) e 图4. 薄膜厚度测量系统配置 3 L% B; D Y# C3 C4 H: H6 ~
. N3 Z* p& Y6 y" v
图5. NanoCalc膜厚仪系统参数 : C/ x: d! F, q# Z4 P& g: l
/ e& l6 D. U# s* b; o4 b# ]+ x
图6. 薄膜材料厚度测量结果举例
1 {: N$ M1 T" |( q% j7 ], \& h; V5 |: c E9 Z
: w5 [" i% {0 X$ [) ~) [. K
; v4 l) q. J) v: W# `' r
$ l2 Z. w$ ?% O, v- [! ~6 @ |