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5 m9 C$ ]) l( k3 a$ p 原标题:椭偏仪的工作原理是什么?在工业中有哪些应用?
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/ `3 H2 V; c0 D, V 椭偏仪有着测量精度高、快速多次测量且长期可靠性的优点,常常被用来检测化学材料微观结构、超薄膜厚度等实验。科研人员发现椭偏仪可以和很多技术并用,比如:原子力显微镜、拉曼光谱仪等。这使椭偏仪被广泛地运用在研究材料、生物以及医药制造等领域中。
( L) b! N- {6 Y. x. Z" F 椭偏仪 ; p! D0 f9 B! ]$ w' h! Y
椭偏仪的工作原理: # b5 }4 J# W# W" }% s
入射光束(线偏振光)的电场可以在两个垂直平面上分解为矢量元。P平面包含入射光和出射光,s平面则是与这个平面垂直。类似的,反射光或透射光是典型的椭圆偏振光,因此仪器被称为椭偏仪。在物理学上,偏振态的变化可以用复数ρ来表示:其中,ψ和∆分别描述反射光p波与s波振幅衰减比和相位差。P平面和s平面上的Fresnel反射系数分别用复函数rp和rs来表示。rp和rs的数学表达式可以用Maxwell方程在不同材料边界上的电磁辐射推到得到。
( G) W1 x$ k ]5 a% Z; ~ 其中ϕ0是入射角,ϕ1是折射角。入射角为入射光束和待研究表面法线的夹角。通常椭偏仪的入射角范围是45°到90°。这样在探测材料属性时可以提供最佳的灵敏度。每层介质的折射率可以用下面的复函数表示。
! m6 }( Q) H: d* V7 f6 E 通常n称为折射率,k称为消光系数。这两个系数用来描述入射光如何与材料相互作用。它们被称为光学常数。实际上,尽管这个值是随着波长、温度等参数变化而变化的。当待测样品周围介质是空气或真空的时候,N0的值通常取1.000。
5 q ?4 c0 ]) k6 v% E/ Q 通常椭偏仪测量作为波长和入射角函数的ρ的值(经常以ψ和∆或相关的量表示)。一次测量完成以后,所得的数据用来分析得到光学常数,膜层厚度,以及其他感兴趣的参数值。
! H+ R# y G$ S% C: }4 p B 椭偏仪在各工业的应用:
* p0 s+ m. G5 f& `0 u) r 1、可用于实验室研究,教学,在线制程监控,工业品质控制等应用。
5 d# V; i- M" |+ o) f$ Q( Z, } 2、半导体行业:硅的氧化物和氮化物,高和低k介质、多晶和非晶硅薄膜,光刻胶。
- B' g- f6 G% T/ C 3、光学涂覆工业:高、低折射率薄膜如SiO2,TiO2,Ta2O5,MgF2,等。
& X1 H. D- [. h* p& Y 4、显示行业:导电层(如ITO),非晶硅薄膜、有机薄膜(OLED技术)。 b x1 E! |: O" H1 c6 I
5、数据存储产业:类金刚石薄膜。 4 _5 Y/ E! D6 Z1 h& J0 b$ S% Z0 s% i
6、R&D 工序:薄膜沉积的原位表征(速率和光学常数)对应工艺条件的变化值,适用于MBE、MOCVD、ALD、溅射等。
) R8 V: {1 Y& Q {7 y% p% u 7、化学和生物:亚-单层材料吸附液体中的细胞实验检测。
4 z d! i" Q1 p 8、工业:在线监测和控制薄膜的厚度。 " e2 p% H; n; n
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