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原标题:日置阻抗分析仪的基本测量原理 ' o9 F# b+ V! t' r
; z8 |8 R/ d3 `% } 日置阻抗分析仪是一种电子测试仪器。它可以测量复数电阻随测试频率的变化。阻抗是表征电子元器件,电子电路和元件材料的一个很重要的参数。另外,阻抗分析可以还被应用到介电材料,比如生物组织,食品和地质样本中。 ' Z! M# C! ^. f# J5 m1 g' |
日置阻抗分析仪的原理是通过相敏检测,同时测量器件在扫频测试过程中的电流和电压。阻抗分析仪的主要参数分别是频率范围,阻抗范围,阻抗幅值的精度和相位精度。更进一步的还包括测量速度,以及在测试中施加电压或者电流偏置的功能 。
; v" S% k1 v8 d! L$ G 日置阻抗分析仪测得的阻抗包含阻抗幅值,实部,虚部,以及由电压和电流造成的相位(差)。根据等效电路模型,一些阻抗参数包括电导,电感和电容,即可被轻松的计算并显示出来。
: L% `7 D% D' T+ w; p- d/ l6 G3 ? 阻抗分析仪一般能够提供高精度的阻抗测量,比如0.05%的基本精度,从µHz到GHz的频率范围,从µΩ 到 TΩ的幅值范围, 同时还有10 mdeg 的相位精度。 - b; ]# L! ?) L9 |2 d# _
LCR的基本测量原理 : i4 R5 E$ V2 W. v9 h2 `
LCR测试仪是用来测量被称为阻抗的这种物理量的测量仪器。阻抗的符号为"Z",表示的是交流电流流过的困难程度。可以通过流过被测物的电流"I"和两端电压"V"求出。
! [: j4 G6 H9 ]/ @, v 阻抗在作为复平面上的矢量来表示,因此使用LCR测试仪不光测量电流有效值和电压有效值之比,还测量电流波形和电压波形的相位差。 ; I' r& @5 s0 _4 Y
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LCR测试仪的测量回路:自动平衡电桥法
- C9 {4 z& E* X% V 作为LCR测试仪的测量回路,较多采用的回路方式之一就是"自动平衡电桥法"。有Hc、Hp、Lp、Lc的4端子,并将所有端子连接被测物。回路概略和各端子的功能请参考如下内容。 ' w6 y b% u/ _+ V, Y" f, T
Hc: 4 X8 y6 C9 `- _; f7 G W
将控制频率、振幅的测量信号外加在被测物的发生端子。 9 l9 p2 I8 a) i& l( @
可控制范围为频率几mHz~几MHz,振幅5mV~5V。 / Y" W+ L' m+ Z% J7 W
Hp: 1 Z" H" @) u R5 s& `! F0 P/ i
检测被测物的Hi端电位。检测回路的输入阻抗非常高,无电压下降,能准确进行电位检测。
1 [) M. z" c+ f) [ Lp:
3 l- u+ N o6 z% j+ r h 检测被测物的Lo端电位。
7 Y8 p% v* P; n4 h P Lc:
8 V7 @% Z7 _! p0 u 通过检测电阻将流过被测物的电流进行电压转换并检测。让Lc端子的电位保持为OV。 0 H9 E# F% V, {& a- k1 Y9 c% K! O

N- [9 R! m7 f( f E ▶ LCR测试仪的测量回路:二端子法/五端子法/四端子对法
' a+ i% @$ e' [- j* g7 W h 采用了自动平衡电桥法的LCR测试仪,其4端子全都是BNC连接器。为了不让外部干扰混入测量信号或检测信号中,使用了覆盖屏蔽的同轴构造。检测回路的构造一般分为五端子法和四端子对法。 ' E9 k# W" e9 f6 q: R4 ?. U
可以解决构造最简单的二端子法的不足。
3 s- p. s$ y2 d! S! D& N, O: `+ d 二端子法:
/ N8 z# F0 {6 e* x& {. k 和被测物是以二端子来接触的构造。测量值是包含了配线电阻和接触电阻的结果,当被测物为低阻抗时影响会更大。而且,线间存在杂散电容,因此高频下测量或高阻抗测量时,测量信号不光会流过被测物也会流过杂散电容,从而产生误差。 0 F- X8 g. C1 p% S
五端子法: % a& S$ J8 _; v. S" h
由于信号电流用电缆和电压检测用电缆是独立分开的,因此可以降低配线电阻或接触电阻的影响。而且,通过使用带屏蔽层的电缆,让屏蔽层之间的电位相同来降低杂散电容的影响。是一种能够降低低阻抗还是高阻抗测量中产生误差的方式。
; o. x! B# E6 H z$ d 四端子对法:
' h- a# ~! N7 [" X, d8 t 降低由测试电流引起的磁场影响,是一种能够降低低阻抗到高阻抗测量中产生误差的方式。通过利用电缆的绝缘层并将正向电流和反向电流相叠加,可以消除所产生的磁场。 + s/ E" Y$ I+ B8 c& U: B

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