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原标题:同惠LCR表TH2816B的测量原理-安泰测试
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9 g$ l3 C: U9 H" Z- L& N1 j& V 当LCR测试仪在100Hz和1KHz频率上,能同时提供串联和并联等效元件值时建议:一定型号和数值的元件应采用一定的方式进行测量。这样做是为了获得既最适合于元件的结构形式,又最适合于元件常用的工作方式的测量。如大容量的电解电容器,常作为电源波滤元件,测量时会发现,1KHZ频率上的电容值明显低于100Hz频率上的电容值。这种现象是由于这类元件的几何结构有关诸因素所构成。因此,电解电容在100Hz频率上测量的电容值是zui有用的,电解电容的损耗项通常在串联等效电阻(ESR)上显示,因此,应该测量其串联电容和串联电阻值。
( ^9 a2 A) x9 K8 n+ p4 F LCR测试仪的测量条件参考表
) r' r, {( ]4 C' R2 u 表 测量条件参考 2 Y& \4 |0 K3 s" O4 ~* Z% U; j
元件名称 测量频率 串--并联 & M, v0 k* u6 r- q% K8 `# X4 t( N
电容<1μF 1KHz 并联
" [7 I# C* l4 J' ~5 C7 h% Y: `- f/ f 电容≥1μF(非电解电容) 100Hz 并联
* i5 W' {/ a0 U7 }" x) a! K. l0 o) t 电容≥1μF(电解电容) 100Hz 串联(SER) / Y( p" t. I- \" A. }& S% z
电感<1H 1KHz 串联(SER)
7 t6 a M7 g0 {) z T8 H7 F) g# |; C 电感≥1H 100Hz 串联(SHR)
$ X* _9 Z/ {( P* F; X: ? 电阻<10KΩ 100Hz 串联(SHR)
% X. e1 X8 w* x/ C2 p& K 电阻≥10KΩ 100Hz 并联 4 y( w0 {1 J' G! Q; i) l5 J7 @9 m
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LCR表TH2816B测试仪的测试原理 ; X/ H/ C* v5 M- v8 c1 f3 M, x
数字LCR测试仪的测量对象为阻抗元件的参数,包括交流电阻R、电感L及其品质因数Q,电容C及其损耗因数D。因此,又常称数字LCR测试仪为数字式LCR测量仪。其测量用频率自工频到约100千赫。基本测量误差为0.02%,一般均在0.1%左右。
r6 V! }4 q* i 数字LCR测试仪原理如图所示。图中DUT为被测件,其阻抗用Zx表示,Rr为标准电阻器。切换开关可分别测出两者的电压Ux与Ur,于是有下式:
5 K1 s) R4 C, Y8 ]) v2 F; V 平衡式LCR测试仪测试原理
6 D4 K: x: o9 _5 i3 D* G Zx = Ux/Ix = Rr * Ux/Ur 5 ?7 v$ u) S/ y. s
此式为一相量关系式。如使用相敏检波器(PSD)分别测出Ux和Ur对应于某一参考相量的同相量分量和正交分量,然后经模数转换(A/D)器将其转化为数字量,再由计算机进行复数运算,即可得到组成被测阻抗Zx的电阻值与电抗值。
: e/ M* X. [4 a0 w* D 从图中的线路及工作原理可见,数字LCR测试仪只是继承了LCR测试仪传统的称呼。实际上它已失去传统经典交流LCR测试仪的组成形式,而是在更高的水平上回到以欧姆定律为基础的测量阻抗的电流表、电压表的线路和原理中。 4 V7 C0 D# Q+ K4 |/ ^1 D
数字LCR测试仪可用于计量测试部门对阻抗量具的检定与传递,以及在一般部门中对阻抗元件的常规测量。很多数字LCR测试仪带有标准接口,可根据被测值的准确度对被测元件进行自动分档;也可直接连接到自动测试系统,用于元件生产线上对产品自动检验,以实现生产过程的质量控制。80年代中期,通用的误差低于0.1%的数字LCR测试仪有几十种。数字LCR测试仪正向着更高准确度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面发展。
; ^* Q, G1 F# N0 y" e; e( M 更多关于同惠TH2816B的详情信息,欢迎访问安泰测试:http://www.agitek.com.cn/chanpin-s-77-1138.html返回搜狐,查看更多 : z* Q3 e% l. a1 j( q" L3 c. k
G% m' U5 C) { 责任编辑: 9 l2 F, O7 X; x+ S1 c) a# h
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