|
! s1 d \! x) U6 v7 T 原标题：同惠LCR表TH2816B的测量原理-安泰测试 % e4 h; c3 Z, Q6 V7 R4 M4 g
2 x; Z$ R. T6 v6 I3 }2 F* b/ \' Y- _
当LCR测试仪在100Hz和1KHz频率上，能同时提供串联和并联等效元件值时建议：一定型号和数值的元件应采用一定的方式进行测量。这样做是为了获得既最适合于元件的结构形式，又最适合于元件常用的工作方式的测量。如大容量的电解电容器，常作为电源波滤元件，测量时会发现，1KHZ频率上的电容值明显低于100Hz频率上的电容值。这种现象是由于这类元件的几何结构有关诸因素所构成。因此，电解电容在100Hz频率上测量的电容值是zui有用的，电解电容的损耗项通常在串联等效电阻(ESR)上显示，因此，应该测量其串联电容和串联电阻值。
' ~. K" O9 n4 i. Y0 Z) A$ p; X LCR测试仪的测量条件参考表
) A" c" r% C" p; L 表 测量条件参考
0 o" ]" F1 e9 J N$ O& Z3 H5 u' r5 X 元件名称 测量频率 串--并联
8 L9 V" z8 D; {* W x) i 电容<1μF 1KHz 并联
7 z* K% @3 z0 U# o 电容≥1μF(非电解电容) 100Hz 并联
9 x; v4 l0 e2 T/ `4 g. L 电容≥1μF(电解电容) 100Hz 串联(SER)
$ I' q$ j# y8 i5 C( U! _- K 电感<1H 1KHz 串联(SER) 5 v1 A7 S9 I$ q, w: ^1 R; @. H& @* T8 n) D
电感≥1H 100Hz 串联(SHR) # c# W' k9 f9 D+ t! R
电阻<10KΩ 100Hz 串联(SHR)
. z9 q8 M0 G; O 电阻≥10KΩ 100Hz 并联
! W7 h( h, R- y; A1 S6 p) [4 T" D 
- c# z, s5 Y* E/ h) |) @
LCR表TH2816B测试仪的测试原理
1 U% g" Y( Y Q8 M1 b( y$ ^3 | 数字LCR测试仪的测量对象为阻抗元件的参数，包括交流电阻R、电感L及其品质因数Q，电容C及其损耗因数D。因此，又常称数字LCR测试仪为数字式LCR测量仪。其测量用频率自工频到约100千赫。基本测量误差为0.02%，一般均在0.1%左右。 ( b0 u% s0 u$ q7 x7 p
数字LCR测试仪原理如图所示。图中DUT为被测件，其阻抗用Zx表示，Rr为标准电阻器。切换开关可分别测出两者的电压Ux与Ur，于是有下式： 1 y- |; L# L5 s5 D3 Q
平衡式LCR测试仪测试原理 # i! g: c7 K5 S. P$ a
Zx = Ux/Ix = Rr * Ux/Ur 2 `1 U! J y( }; h" p
此式为一相量关系式。如使用相敏检波器(PSD)分别测出Ux和Ur对应于某一参考相量的同相量分量和正交分量，然后经模数转换(A/D)器将其转化为数字量，再由计算机进行复数运算，即可得到组成被测阻抗Zx的电阻值与电抗值。
/ V% x" D+ K$ m2 w* q 从图中的线路及工作原理可见，数字LCR测试仪只是继承了LCR测试仪传统的称呼。实际上它已失去传统经典交流LCR测试仪的组成形式，而是在更高的水平上回到以欧姆定律为基础的测量阻抗的电流表、电压表的线路和原理中。 ; O/ Y& A8 [4 f* |( W) l1 z
数字LCR测试仪可用于计量测试部门对阻抗量具的检定与传递，以及在一般部门中对阻抗元件的常规测量。很多数字LCR测试仪带有标准接口，可根据被测值的准确度对被测元件进行自动分档;也可直接连接到自动测试系统，用于元件生产线上对产品自动检验，以实现生产过程的质量控制。80年代中期，通用的误差低于0.1%的数字LCR测试仪有几十种。数字LCR测试仪正向着更高准确度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面发展。
2 j' ]! D+ |1 J+ q0 a. k& h 更多关于同惠TH2816B的详情信息，欢迎访问安泰测试：http://www.agitek.com.cn/chanpin-s-77-1138.html返回搜狐，查看更多 % s& d: a# d. C5 J7 n% L8 n; }' o8 z
/ m6 o ?5 Q! j& @4 Q) }% { 责任编辑： " a) y0 S/ Y2 l: @9 @
" O& q; W* L* f' J
- |5 J& V4 t+ P/ S a4 p" N4 E3 L8 c; z
+ I$ G# B+ E& |1 C3 q
| 
